植物冠層分析可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系。通用植物冠層分析漫反射多波段光譜測量儀選取太陽光為輻射光源?？梢詫?shí)時測量十六個互不相同波段對植物的反射率，并可以任意選擇十六個任意不同波段或少于十六個波段的植物多光譜反射率。通過選取合適的光譜波段后，植物冠層分析可以用于測量植被指數(shù)、植物養(yǎng)分診斷、植物協(xié)迫狀態(tài)、植物冠層光譜信息、土壤多光譜反射信息等。

　　植物冠層分析可以無損傷地測量葉面積指數(shù)。植物冠層分析利用植被樹冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算葉面積指數(shù)、空隙比等樹冠結(jié)構(gòu)參數(shù)。植物冠層分析利用隨機(jī)軟件，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行深入處理分析。

　　葉面積指數(shù)與植物冠層分析吸收的光合有效輻射分量在生態(tài)學(xué)與氣候?qū)W中是重要的生物物理參數(shù)。這些參數(shù)在生態(tài)學(xué)及氣候?qū)W領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。植物冠層分析采用*的創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉(zhuǎn)換為林窗比例分布。從而計(jì)算出葉面積指數(shù)等參數(shù)。

　　通過植物冠層分析對果樹的研究發(fā)現(xiàn)，水平臺階式的冠層開度、樹冠下散射光量子通量密度高于疏散分層形，而與大冠疏散冠層相比，水平臺階式樹形層次分明，冠層開度大、冠層總光合光量子通量密度高以及良好的樹體結(jié)構(gòu)、營養(yǎng)枝長的水平臺階式冠層可能是果實(shí)品質(zhì)優(yōu)的原因。植物冠層分析用于各種高度植物冠層的研究，植物冠層分析采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中zui和zui省力、省時、快捷方便的方法。

　　利用植物冠層分析植物冠層結(jié)構(gòu)與產(chǎn)量的關(guān)系，可以幫助現(xiàn)代農(nóng)業(yè)更好的開展肥水管理，通過進(jìn)一步優(yōu)化群體冠層結(jié)構(gòu)，來進(jìn)一步發(fā)掘農(nóng)作物的潛能，提高農(nóng)作物的產(chǎn)量，實(shí)現(xiàn)更高、更顯著的農(nóng)業(yè)種植目標(biāo)。